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平成16年度日本顕微鏡学会関西支部特別企画

「電子ビームを用いたマイクロアナリシス」

日時:平成16年12月11日(土)10時〜17時 

場所:大阪大学中之島センター
   大阪市北区中之島4-3-53 TEL 06-6444-2100 FAX 06-6444-2338
  アクセスについてはホームページをご覧下さい
   http://www.onc.osaka-u.ac.jp/

定 員:80名

参加費:無料

資料代:顕微鏡学会会員(賛助団体所属員を含む)1000円。 その他の方 2000円。

申込み:申込み用紙をダウンロードしてプリントアウトされ、ご記入の上FAXで下記までお申し込みください

参加申込書のダウンロード

PDF 形式 (16K)  WORD形式 (34K)

申込書の送付先: FAX 075-823-0462  (島津総研 副島)

お問い合せ先:TEL 075-823-0461 島津総研 副島(そえじま)

プログラム
1. 「入射電子と固体材料の相互作用」
   入射電子の侵入拡散、電子信号・光・X線の発生と空間分解能
     島津総研      副島 啓義

2. 「EELSの最新技術とその応用」
     京都大       倉田 博基

3. 「ナノメートル空間分解能オージェ電子分光法とその応用」
     アルバックファイ  鈴木 峰晴 

4. 「タンパク質の質量分析により病気を診る」
     大阪医科大     清水 章

 

ランチョンセミナ ―企業からの最新技術紹介―

「FE−オージェによるナノメーター領域の表面状態分析」
     日本電子(株)

「CeBix(セビックス)電子源を用いた微小部X線分析」
     (株)島津製作所

 

5. 「CLの最新技術とその応用」
       京都工繊大      一色 俊之  
 

6. 「EDS・極低温EDSの最新状況と応用」
     大阪電通大      谷口 一雄  

7. 「高感度WDSと新技術WDSとその応用」
     京都大        河合 潤       

8. 「無染色組織切片の元素マッピングと病気診断」
     新潟大        渡辺 孝一

9. 「金属・無機材料微小部の高感度分析とX線スペクトルによる状態解析」
     兵庫工技センター   山下 満

10. 「半導体薄層の軟X線スペクトルによる状態分析」
      岡山大        岩見 基弘 

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Last Modified on : 2003/7/31
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